国家知识产权局信息显示,FEI公司申请一项名为“确定变形特征的方法及相关系统”的专利,公开号CN121998817A,申请日期为2025年10月。
专利摘要显示,在一个示例中,一种方法包括确定表征变形特征的特征位移梯度(DG)张量。该方法包括在迭代例程中,计算与试验DG张量相关联的目标函数值,所述计算至少部分基于自动确定的ZOC内的像素值,其中所述ZOC至少部分基于所述试验DG张量。在另一示例中,一种方法包括确定对应于测试图像的一个或多个旋转变换分量,并至少部分基于所述旋转变换分量确定特征DG张量。在另一示例中,一种系统包括电子光学组件、检测器组件以及被编程为确定特征DG张量的控制器。在另一示例中,一种非暂态计算机可读介质存储有指令,当所述指令由计算机执行时,使所述计算机执行一种确定变形特征的方法。
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