国家知识产权局信息显示,FEI公司申请一项名为“长时间采集的暗校正”的专利,公开号CN121784049A,申请日期为2025年9月。
专利摘要显示,一种带电粒子光束(CPB)成像装置,在CPB被遮断时间歇性地采集暗帧,并使用这些间歇采集的暗帧更新暗参考。该暗参考用于补偿采集到的样品帧中的加性噪声分量,尤其是用于补偿在长时间、多次图像采集过程中逐渐增加的加性噪声。
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来源:市场资讯
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