国家知识产权局信息显示,FEI公司申请一项名为“检测和调整薄片变形”的专利,公开号CN121061215A,申请日期为2025年6月。专利摘要显示,本公开涉及检测和调整薄片变形。一种方法,该方法包括:使用具有第一次铣削设置的带电粒子系统,在第一次对样品进行第一次铣削操作,基于第一次铣削操作生成样品的第一幅图像,基于第一幅图像确定样品的第一组跟踪特征,使用具有第一次铣削设置的带电粒子系统,在第二次对样品进行第二次铣削操作,基于第二次铣削操作生成样品的第二幅图像,基于第二幅图像确定第一组跟踪特征的第一次更改,基于第一次更改将第一次铣削设置调整为第二次铣削设置。
声明:市场有风险,投资需谨慎。本文为AI基于第三方数据生成,仅供参考,不构成个人投资建议。
来源:市场资讯