国家知识产权局信息显示,FEI 公司申请一项名为“样品制备”的专利,公开号CN121275449A,申请日期为2025年7月。
专利摘要显示,样品制备。本发明涉及用于在带电粒子显微镜中成像之前确定样品的特性的方法,以及通过此类方法制备的样品。
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来源:市场资讯
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